鉅大LARGE | 點擊量:1321次 | 2019年12月26日
在SMPS應用中選擇IGBT和MOSFET的比較
開關電源(SwitchModePowerSupply;SMPS)的性能在很大程度上依賴于功率半導體器件的選擇,即開關管和整流器。雖然沒有萬全的方案來解決選擇IGBT還是MOSFET的問題,但針對特定SMPS應用中的IGBT和MOSFET進行性能比較,確定關鍵參數的范圍還是能起到一定的參考作用。本文將對一些參數進行探討,如硬開關和軟開關ZVS(零電壓轉換)拓撲中的開關損耗,并對電路和器件特性相關的三個主要功率開關損耗—導通損耗、傳導損耗和關斷損耗進行描述。此外,還通過舉例說明二極管的恢復特性是決定MOSFET或IGBT導通開關損耗的主要因素,討論二極管恢復性能對于硬開關拓撲的影響。
SMPS的進展
一直以來,離線式SMPS產業由功率半導體產業的功率元件發展所推動。作為主要的功率開關器件IGBT、功率MOSFET和功率二極管正不斷改良,相應地也是明顯地改善了SMPS的效率,減小了尺寸,重量和成本也隨之降低。由于器件對應用性能的這種直接影響,SMPS設計人員必須比較不同半導體技術的各種優缺點以優化其設計。例如,MOSFET一般在較低功率應用及較高頻應用(即功率《1000W及開關頻率≥100kHz)中表現較好,而IGBT則在較低頻及較高功率設計中表現卓越。為了做出真實的評估,筆者在SMPS應用中比較了來自飛兆半導體的IGBT器件FGP20N6S2(屬于SMPS2系列)和MOSFET器件FCP11N60(屬于SuperFET產品族)。這些產品具有相近的芯片尺寸和相同的熱阻抗RθJC,代表了功率半導體產業現有的器件水平。
導通損耗
除了IGBT的電壓下降時間較長外,IGBT和功率MOSFET的導通特性十分類似。由基本的IGBT等效電路(見圖1)可看出,完全調節PNPBJT集電極基極區的少數載流子所需的時間導致了導通電壓拖尾(voltagetail)出現。
這種延遲引起了類飽和(Quasi-saturation)效應,使集電極/發射極電壓不能立即下降到其VCE(sat)值。這種效應也導致了在ZVS情況下,在負載電流從組合封裝的反向并聯二極管轉換到IGBT的集電極的瞬間,VCE電壓會上升。IGBT產品規格書中列出的Eon能耗是每一轉換周期Icollector與VCE乘積的時間積分,單位為焦耳,包含了與類飽和相關的其他損耗。其又分為兩個Eon能量參數,Eon1和Eon2。Eon1是沒有包括與硬開關二極管恢復損耗相關能耗的功率損耗;Eon2則包括了與二極管恢復相關的硬開關導通能耗,可通過恢復與IGBT組合封裝的二極管相同的二極管來測量,典型的Eon2測試電路如圖2所示。IGBT通過兩個脈沖進行開關轉換來測量Eon。第一個脈沖將增大電感電流以達致所需的測試電流,然后第二個脈沖會測量測試電流在二極管上恢復的Eon損耗。
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