電子器件的電源測量通常情況是指開關(guān)電源的測量(當(dāng)然還有線性電源)。講述開關(guān)電源的資料非常多，本文討論的內(nèi)容為pWM開關(guān)電源，而且僅僅是作為測試相關(guān)經(jīng)驗(yàn)的總結(jié)，為大家簡述容易引起系統(tǒng)失效的一些因素。因此，在閱讀本文之前，已經(jīng)假定您關(guān)于開關(guān)電源有一定的了解。

1開關(guān)電源簡述

開關(guān)電源(SwitchingModepowerSupply，常常簡化為SMpS)，是一種高頻電能轉(zhuǎn)換裝置。其功能是將電壓透過不同形式的架構(gòu)轉(zhuǎn)換為用戶端所需求的電壓或電流。

開關(guān)電源的拓?fù)渲搁_關(guān)電源電路的構(gòu)成形式。一般是根據(jù)輸出地線與輸入地線有無電氣隔離，分為隔離及非隔離變換器。非隔離即輸入端與輸出端相通，沒有隔離措施，常見的DC/DC變換器大多是這種類型。所謂隔離是指輸入端與輸出端在電路上不是直接聯(lián)通的，使用隔離變壓器通過電磁變換方式進(jìn)行能量傳遞，輸入端和輸出端之間是完全電氣隔離的。

關(guān)于開關(guān)變換器來說，只有三種基本拓?fù)湫问剑矗?/p>

●Buck(降壓)

●Boost(升壓)

●Buck-Boost(升降壓)

三種基本拓?fù)湫问剑请姼械倪B接方式?jīng)Q定。若電感放置于輸出端，則為Buck拓?fù)?電感放置于輸入端，則是Boost拓?fù)洹．?dāng)電感連接到地時(shí)，就是Buck-Boost拓?fù)洹?/p>

2容易引發(fā)系統(tǒng)失效的關(guān)鍵參數(shù)測試

以下的測試項(xiàng)目除了是指在靜態(tài)負(fù)載的情況下測試的結(jié)果，只有噪聲(noise)測試要用到動(dòng)態(tài)負(fù)載。

2.1phase點(diǎn)的jitter

關(guān)于典型的pWM開關(guān)電源，假如phase點(diǎn)jitter太大，通常系統(tǒng)會不穩(wěn)定(和后面提到的相位裕量相關(guān))，關(guān)于200~500K的pWM開關(guān)電源，典型的jitter值應(yīng)該在1ns以下。

2.2phase點(diǎn)的塌陷

有時(shí)候工程師測量到下面的波形，這是典型的電感飽和的現(xiàn)象。關(guān)于相關(guān)經(jīng)驗(yàn)不夠豐富的工程師，往往會忽略掉。電感飽和會讓電感值急劇下降，類似于短路了，這樣會造成電流的急劇新增，MOS管往往會因?yàn)闇囟鹊募眲⌒略龆鵁龤А＿@時(shí)要更換飽和電流更大的電感。

2.3Shootthrough測試

測試的目的是看上MOS管導(dǎo)通時(shí)，有沒有同時(shí)把下管打開，從而導(dǎo)致電源直接導(dǎo)通到地而引起短路。如圖三所示藍(lán)色曲線(Vgs_Lmos)就是下管在上管導(dǎo)通的同時(shí)，被帶了起來，假如藍(lán)色曲線的被帶起來的尖峰超過了MOS管的Vth要求，同時(shí)持續(xù)時(shí)間(Duration)也超過了datasheet要求，從而就會有同時(shí)導(dǎo)通的風(fēng)險(xiǎn)。當(dāng)然，這是大家最常見到的情況。

下面這種情況有非常多的人會忽視，甚至是一些比較有相關(guān)經(jīng)驗(yàn)的電源測試工程師。下面組圖四是下管打開，上管關(guān)閉時(shí)候的波形(圖4-1是示意圖，圖4-2示實(shí)際測試圖)。雖然沒有被同時(shí)帶起的情況，但是請注意上下管有交叉的現(xiàn)象，而且交叉點(diǎn)的電平遠(yuǎn)高于MOS管規(guī)定的Vth值，這是個(gè)嚴(yán)重的shootthrough現(xiàn)象。最直接的后果就是MOS管燒毀![page]

2.4相位裕量和帶寬(phasemarginandbandwidth)

相位裕量和帶寬是很多公司都沒有測試的項(xiàng)目(尤其是規(guī)模較小的公司受限于儀器)，但是這卻是個(gè)非常重要的測試項(xiàng)目。電源系統(tǒng)是否穩(wěn)定，是否能長時(shí)間(3年或以上)有效工作，相位裕量和帶寬可以在很大程度上說起了決定性的用途。很多公司完全依賴于電源芯片廠家給的參考設(shè)計(jì)方法里的推薦值，但是跟你的設(shè)計(jì)往往有不小的差異，這樣會有很大的潛在風(fēng)險(xiǎn)。

假如系統(tǒng)是一個(gè)不穩(wěn)定的系統(tǒng)，反映在一些電源測試項(xiàng)目里面，會看到以下幾個(gè)重要問題。

●電源的Noise測試通過，但是電源依然不穩(wěn)定。表現(xiàn)為功能測試fail。常常有工程師在debug時(shí)說我的電源noise已經(jīng)很小了，加了很多電容了，為啥還是跑不動(dòng)呢?其實(shí)是他的閉環(huán)系統(tǒng)本來就不穩(wěn)定。

●phase點(diǎn)jitter過大。這是比較典型的不穩(wěn)定現(xiàn)象。

●瞬態(tài)響應(yīng)(Transientresponse)太大。最笨的辦法就是加很多電容，去滿足瞬態(tài)響應(yīng)的要求。關(guān)于低成本產(chǎn)品，這可是要錢的啊。

假如你沒有用正確的方法測試出系統(tǒng)的環(huán)路增益的波特圖，那么你如何下手去調(diào)試這些項(xiàng)目讓他通過測試呢?只有來來回回不停作實(shí)驗(yàn)。然后來來回回跑功能測試。Oh,mygod,浩大的工作量。而且，關(guān)于一些低成本的產(chǎn)品，往往用到了鋁電解電容，MLCC電容等低成本方法(電感，電阻值基本沒有變化)。這些電容的容值會隨著時(shí)間變化而減少。如MLCC，系統(tǒng)運(yùn)行在正常溫度兩年~三年，容值會變到原來的一半。而這一半電容的變化，會對系統(tǒng)的穩(wěn)定造成很大的影響，這也是為何很多低價(jià)的產(chǎn)品質(zhì)量不可靠的一個(gè)重要原因。那是不是說價(jià)格越高，用越多的電容就越好呢，當(dāng)然不是。這就是為啥要測試phasemargin的原因。你要調(diào)試一組合理的值，能夠同時(shí)覆蓋全電容以及半電容的要求。這樣同樣能做到低價(jià)格高品質(zhì)。

根據(jù)奈奎斯特定理對系統(tǒng)穩(wěn)定性要求，規(guī)范要求一個(gè)閉環(huán)系統(tǒng)的相位裕量最少為60度，45~60度可以考慮為最低限額要求。關(guān)于帶寬，200~500K的開關(guān)電源的要求在10%~30%的開關(guān)頻率。從開關(guān)電源的穩(wěn)定性看帶寬越低，電源越容易穩(wěn)定。從開關(guān)電源的動(dòng)態(tài)指標(biāo)看，帶寬越高電源的動(dòng)態(tài)性能越好。

下圖五為典型的波特圖：

另外一點(diǎn)非常重要的是，除了pWM開關(guān)電源，有很多線性電源(LDO)，其補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)在芯片外部的，也要做類似的環(huán)路增益的波特圖測試，從而確保其穩(wěn)定性。LDO的測試，是絕大多數(shù)廠家容易忽略掉的。比如如下圖六所示這種電路，很多人會直接測量noise完事。

我們有可能會看到的相位裕量不能達(dá)到要求。如下圖七，只有30度左右。這個(gè)時(shí)候，只有調(diào)試不同的參數(shù)，才能得到比較好的結(jié)果。從而滿足系統(tǒng)穩(wěn)定性的要求。

2.5電源紋波(ripple)和噪聲(noise)

電源紋波和噪聲，看起來是電源測試?yán)锩孀詈唵蔚捻?xiàng)目。但是也有可能對你的測試結(jié)果和功能有比較大的影響。

首先是紋波，我們測試的時(shí)候，只是看是不是符合規(guī)范要求，比如30mV等等。有些時(shí)候，紋波和系統(tǒng)的pLL是有關(guān)系的。假如你的pLLjitter不過，可以考慮進(jìn)一步減小ripple。

噪聲，有人會問，為啥我的系統(tǒng)noise和他的系統(tǒng)noise基本是一個(gè)范圍，但是我的系統(tǒng)會跑fail呢?首先我們要排除前面講的系統(tǒng)穩(wěn)定性原因，然后，親，你有沒有用示波器做過FFT，看看同樣noise在頻域上的差別呢?